金属材料・高分子材料・セラミックス材料またそれらを用いた部品・部材・製品の製造過程において、意図せずに混入する異物の問題は、製品の歩留まり不良を起こすだけではなく、時には客先で大きな問題になることがあります。材料技術講習会「異物解析・故障解析を支える分析技術」では、これらの対策及び様々な分析手法について解説します。開催概要は、以下の通りです。

・開催日：平成31年3月5日（火曜日）

・時間：午後1時から午後4時30分まで（受け付け開始は午前12時40分からです。）

・定員：40名（無料）

・会場：産業支援技術研究所・天台庁舎（千葉市稲毛区天台6-13-1）

・内容：「異物解析・故障解析の事例に対する分析手法・分析装置のご紹介」

　原理を基礎及び応用分野を含めて、装置の概論について解説します。

　ラマン分光分析

　蛍光X線分析

　GD-OES分析

　固体中元素分析

　粒子径分布測定

講師：株式会社堀場製作所

・開発本部第2製品開発センター　科学・半導体開発部OpiticalAnalysisチーム

・営業本部東京セールスオフィス科学1チーム兼カスタム製品開発部AdvancedEngineeringチーム

・営業本部東京セールスオフィス科学1チーム　ジョブリーダー

お申し込み方法など詳細につきましては千葉県のホームページをご覧ください。